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陶瓷介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀點(diǎn)擊次數(shù):163
發(fā)布時(shí)間:2024-10-08 20:50:02 |
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陶瓷介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來(lái)源于電導(dǎo)損耗、松弛質(zhì)點(diǎn)的極化損耗和結(jié)構(gòu)損耗。此外,表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電導(dǎo)也會(huì)引起較大的損耗。
在結(jié)構(gòu)緊密的陶瓷中,介質(zhì)損耗主要來(lái)源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能,往往在配方中引人此易熔物質(zhì)(如黏土),形成玻璃相,這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大,介質(zhì)損耗也增大。因面一般高頻瓷,如氧化鋁瓷、金紅石等很少含有玻璃相。大多數(shù)電陶瓷的離子松弛極化損耗較大,主要的原因是:主晶相結(jié)構(gòu)松散,生成了缺固濟(jì)體、多品型轉(zhuǎn)變等。
高分子材料的損耗
高分子聚合物電介質(zhì)按單體單元偶極矩的大小可分為極性和非極性?xún)深?lèi)。一般地,偶極矩在0~0.5D(德拜)范圍內(nèi)的是非極性高聚物;偶極矩在0.5D以上的是極性高聚物。非極性高聚物具有較低的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,其介電常數(shù)約為2,介質(zhì)損耗小于10-4;極性高聚物則具有較高的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗,并且極性愈大,這兩個(gè)值愈高。
高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團(tuán)的取向,因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹(shù)脂就是典型的例子,雖然這種高聚物的極性很強(qiáng),但只要固化比較完全,它的介質(zhì)損耗就不高。相反,支化使分子鏈間作用力減弱,分子鏈活動(dòng)能力增強(qiáng),介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。
高聚物的凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)及力學(xué)狀態(tài)對(duì)介電性景響也很大。結(jié)品能鏈段上偶極矩的取向極化,因此高聚物的介質(zhì)損耗隨結(jié)晶度升高而下降。當(dāng)高聚物結(jié)晶度大于70%時(shí),鏈段上的偶極的極化有時(shí)完全被,介電性能可降至低值,同樣的道理,非晶態(tài)高聚物在玻璃態(tài)下比在高彈態(tài)下具有更低的介質(zhì)損耗。此外,高聚物中的增塑利、雜質(zhì)等對(duì)介電性能也有很大景響。
介質(zhì)損耗(dielectric loss )指的是絕緣材料在電場(chǎng)作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡(jiǎn)稱(chēng)介損。
介質(zhì)損耗因數(shù)(dielectric loss factor)指的是衡量介質(zhì)損耗程度的參數(shù)?!疽罁?jù)標(biāo)準(zhǔn)】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M
功能介紹
1.自動(dòng)停機(jī):試樣破壞后,移動(dòng)橫梁自動(dòng)停止移動(dòng)(或自動(dòng)返回初始位置、
2.自動(dòng)換檔:根據(jù)試驗(yàn)力大小自動(dòng)切換到適當(dāng)?shù)牧砍蹋源_保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性
3.條件模塊:試驗(yàn)條件和試樣原始數(shù)據(jù)可以建立自己的標(biāo)準(zhǔn)模塊的形式存儲(chǔ);方便用戶(hù)的調(diào)用和查看,節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間
4.自動(dòng)變速:試驗(yàn)過(guò)程的位移速度或加載速度可按預(yù)先編制、設(shè)定的程序自動(dòng)完成也可手動(dòng)改變
5.自動(dòng)程制:根據(jù)試驗(yàn)要求,用戶(hù)可方便的建立自己的試驗(yàn)?zāi)0澹ǚ椒ā?,便于二次調(diào)用,可實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)加載速度、應(yīng)力、應(yīng)變的閉環(huán)試驗(yàn)控制
6.自動(dòng)保存:試驗(yàn)結(jié)束,試驗(yàn)數(shù)據(jù)和曲線(xiàn)計(jì)算機(jī)自動(dòng)保存,杜絕因忘記存盤(pán)而引起的數(shù)據(jù)丟失
7.測(cè)試過(guò)程:試驗(yàn)過(guò)程及測(cè)量、顯示、分析等均由微機(jī)完成
8.批量試驗(yàn):對(duì)相同參數(shù)的試樣,一次設(shè)定后可順次完成一批試驗(yàn)
9.試驗(yàn)軟件:中文Windows用戶(hù)界面,操作簡(jiǎn)便
10.顯示方式:數(shù)據(jù)與曲線(xiàn)隨試驗(yàn)過(guò)程動(dòng)態(tài)顯示
11.曲線(xiàn)遍歷:試驗(yàn)完成后,可對(duì)曲線(xiàn)進(jìn)行放大再分析,用鼠標(biāo)查到試驗(yàn)曲線(xiàn)上各點(diǎn)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)
12.試驗(yàn)報(bào)告:可根據(jù)用戶(hù)要求進(jìn)行編輯打印
13.限位保護(hù):具有程控和機(jī)械兩級(jí)限位保護(hù)
14.過(guò)載保護(hù):當(dāng)負(fù)荷超過(guò)額定值3~5%時(shí),自動(dòng)停機(jī)
15.報(bào)告顯示:自動(dòng)和人工兩種模式求取各種試驗(yàn)結(jié)果,自動(dòng)形成報(bào)表,使數(shù)據(jù)分析過(guò)程變的簡(jiǎn)單,便于用戶(hù)
16.添加試驗(yàn)方法:用戶(hù)可跟據(jù)試驗(yàn)要求,添加試驗(yàn)方法
軟件說(shuō)明
a.軟件系統(tǒng):中英文Windows2000/XP/Win7平臺(tái)下軟件包
b.自動(dòng)儲(chǔ)存:試驗(yàn)條件、試驗(yàn)結(jié)果、計(jì)算參數(shù)、標(biāo)距位置自動(dòng)儲(chǔ)存。
c.自動(dòng)返回:試驗(yàn)結(jié)束后,試驗(yàn)機(jī)橫梁會(huì)自動(dòng)返回到試驗(yàn)初始位置。
d.連續(xù)試驗(yàn):一批試驗(yàn)參數(shù)設(shè)定完成后,可連續(xù)進(jìn)行測(cè)試。
e.多種曲線(xiàn):同一圖形上可顯示多種不同的曲線(xiàn):荷重--位移、荷重-時(shí)間、位移--時(shí)間、應(yīng)力—應(yīng)變、荷重—兩點(diǎn)延伸等到多種曲線(xiàn)。
f.曲線(xiàn)對(duì)比:同組試樣的曲線(xiàn)可在同一張圖上疊加對(duì)比。
g.報(bào)告編輯:可按用戶(hù)要求輸出不同的報(bào)告形式。
h.動(dòng)態(tài)顯示:測(cè)試過(guò)程中,負(fù)荷、伸長(zhǎng)、位移及選中的試驗(yàn)曲線(xiàn)隨著測(cè)試的進(jìn)行,實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示在主控屏幕上。
i.自動(dòng)變標(biāo):試驗(yàn)中負(fù)荷、伸長(zhǎng)等曲線(xiàn)坐標(biāo),如果選擇不當(dāng),可根據(jù)實(shí)測(cè)值的大小,自動(dòng)變換座標(biāo)。保證在任何情況下 曲線(xiàn)以大的形式顯示在屏幕上。
j.峰值保持:在測(cè)試的整個(gè)過(guò)程中,測(cè)試項(xiàng)目的大值始終隨著試驗(yàn)的進(jìn)行,在屏幕窗口上顯示。
陶瓷介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀
技術(shù)參數(shù):
1.Q值測(cè)量
a.Q值測(cè)量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
c.標(biāo)稱(chēng)誤差
頻率范圍(100kHz~10MHz): 頻率范圍(10MHz~160MHz):
固有誤差:≤5%±滿(mǎn)度值的2% 固有誤差:≤6%±滿(mǎn)度值的2%
工作誤差:≤7%±滿(mǎn)度值的2% 工作誤差:≤8%±滿(mǎn)度值的2%
2.電感測(cè)量范圍:4.5nH~7.9mH
3.電容測(cè)量:1~205
主電容調(diào)節(jié)范圍:18~220pF
準(zhǔn)確度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%
注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)后頁(yè)使用說(shuō)明
4. 信號(hào)源頻率覆蓋范圍
頻率范圍CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,
CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,
5.Q合格指示預(yù)置功能: 預(yù)置范圍:5~1000。
6.B-測(cè)試儀正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對(duì)濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
1 測(cè)量范圍及誤差
本電橋的環(huán)境溫度為20±5℃,相對(duì)濕度為30%-80%條件下,應(yīng)滿(mǎn)足下列表中的技術(shù)指示要求。
在Cn=100pF R4=3183.2(W)(即10K/π)時(shí)
測(cè)量項(xiàng)目 測(cè)量范圍 測(cè)量誤差
電容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF
介質(zhì)損耗tgd 0~1 ±1.5%tgdx±0.0001
在Cn=100pF R4=318.3(W)(即1K/π)時(shí)
測(cè)量項(xiàng)目 測(cè)量范圍 測(cè)量誤差
電容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF
介質(zhì)損耗tgd 0~0.1 ±1.5%tgdx±0.0001
2 電橋測(cè)量靈敏度
電橋在使用過(guò)程中,靈敏度直接影響電橋平衡的分辨程度,為保證測(cè)量準(zhǔn)確度,希望電橋靈敏度達(dá)到一定的水平。通常情況下電橋靈敏度與測(cè)量電壓,標(biāo)準(zhǔn)電容量成正比。在下面的計(jì)算公式中,用戶(hù)可根據(jù)實(shí)際使用情況估算出電橋靈敏度水平,在這個(gè)水平上的電容與介質(zhì)損耗因數(shù)的微小變化都能夠反應(yīng)出來(lái)。
DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)
式中:U為測(cè)量電壓 伏特(V)
ω為角頻率 2pf=314(50Hz)
Cn標(biāo)準(zhǔn)電容器容量 皮法(pF)
Ig通用指另儀的電流5X10-10 安培(A)
Rg平衡指另儀內(nèi)阻約1500 歐姆(W)
R4橋臂R4電阻值3183 歐姆(W)
Cx被測(cè)試品電容值 皮法(pF)
3 電容量及介損顯示精度:
電容量: ±0.5%×tgδx±0.0001。
介 損: ±0.5%tgdx±1×10-4
4 輔橋的技術(shù)特性:
工作電壓±12V,50Hz
輸入阻抗>1012 W
輸出阻抗>0.6 W
放大倍數(shù)>0.99
不失真跟蹤電壓 0~12V(有效值)
5 指另裝置的技術(shù)特性:
工作電壓±12V
在50Hz時(shí)電壓靈敏度不低于1X10-6V/格, 電流靈敏度不低于2X10-9A/格
二次諧波 減不小于25db
三次諧波 減不小于50db

ASTMD150介電常數(shù)測(cè)試儀
涂層介電常數(shù)測(cè)試儀
國(guó)標(biāo)GBT1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀